2006年12月18日（月）13:20〜
三菱総合研究所（東京都千代田区大手町2-3-6） 1階AVルーム
無料
多目的パターンフィッティング・システムRIETAN-2000の後継ソフトウェアRIETAN-FP、結晶・電子構造の三次元可視化プログラムVICS・VENDを統合するとともにGUIを一新したVESTAは、正式版の公開前から多大な関心を集めている。そこで両ソフトの開発者である泉 富士夫氏と門馬綱一氏がそれぞれRIETAN-FPとVESTAについて詳しく解説するという機会を設けた。
さらにゼオライトやその前駆体などの非経験的構造解析について池田卓史氏に講演していただく。粉末X線回折データ（放射光、特性X線＋高感度検出器）の測定、指数づけ、空間群の決定、パターン分解による積分強度の抽出、逆空間法（EXPO2004）と直接空間法（DASH、FOX）による構造モデルの導出、RIETAN-FPとPRIMAによるリートベルト解析と電子密度分布の決定、VESTAによる結晶構造と電子密度の三次元可視化という一連のデータ測定・解析の流れに関する理解が一段と深まるに違いない。これらの解析技術の一部は中性子回折データにも適用できる。
なお、参加者にはRIETAN-FPとVESTAのベータ版、RIETAN-FPのマニュアルをダウンロードする権利が与えられる。
趣旨説明および連絡事項（13:20〜13:30）
物質・材料研究機構 量子ビームセンター 泉 富士夫（13:30〜14:40）
東北大学大学院 門馬綱一（14:50〜15:50）
産業技術総合研究所 東北センター 池田卓史（15:50〜17:00）
質問と意見交換の場（17:00〜17:30）
会費： 1,000円、希望者のみ（17:40〜）
ひたちなかテクノセンター 神田詔三
E-mail： kanda@htc.co.jp
TEL： 029-264-2200